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全自动晶圆测试系统

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Axis-Tec公司新一代全自动晶圆级测试仪支持多PLE晶圆测试，测试功能丰富、可批量生产，扫描速度更快、测试时间更短。

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Axis-Tec actif自动晶圆级测试仪具备所有内置功能，并具有高度灵活性，可与各种光电测试仪器或设备集成，以执行O-O（光到光）、E-O（电到光）和O-E（光到电）的测试。晶圆测试仪具备自动被动和主动对准功能，以实现精确的光学峰值搜索和电子探针定位。

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功能特点

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• 高速光纤/光纤阵列耦合

  • 单次耦合时间<3秒

  • 插入损耗<1dB

• 精密上下料系统

  • 多维度视频耦合

  • 6轴高精度探针

• 高灵活度集成

  • 支持各种主流光学和电学测试设备

  • 支持各种主流通信协议

• 低成本投资

  • 投资回报周期短，投资回报率高，极具竞争性的价格